首頁    角度衍射測量    KXR-4100系列雙轉角晶片測角機
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              KXR-4100系列雙轉角晶片測角機

              用于雙轉角石英晶片的角度測量。

              主要特點

               

              1. 采用低功率X射線源實現雙轉角晶片角度的精確測量。

              2. 可根據用戶指定的轉角范圍進行產品定制。

              3. 可根據用戶指定的晶片規格提供自動分類方案。

               

              統計功能

               

              —動態中心值指示

              —動態標準偏差值指示

              —測量數據列表顯示

              —模擬分選統計

               

              測量模式

               

              放置一個晶片,自動整理,自動掃描測量。


              技術參數

               

              KXR-4100

              Φ:18°30′0″- 26°00′0″

              θ:33°15′0″- 34°30′0″

              KXR-4102

              Φ:0°0′0″- 8°30′0″

              θ:34°15′0″- 35°45′0″

              外形尺寸(長寬高)

              725*715*1450mm

              重量

              198kg

              屏幕

              8英寸觸控屏

              輸入電源

              220V±10%,50-60Hz,0.65A

              輸入氣源

              0.5MPa,20L/min潔凈氣源

              衍射方式

              二級衍射 

              光路調整方式

              可控光軌調整裝置

              操作方式

              人工置片,自動整理±X方向辨識測量和分類

              靜態重復性測試標準偏差

              約3″(10次,不同角度晶片會有差異)

              可測量晶片規格

              X向:12-40mm,Z向:12-40mm

              數據呈現

              實時提供每片數據;數據以統計表  形式顯示在觸控屏上

              數據輸出

              提供以太網傳輸接口、SD卡 

               

               

               

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