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首頁    角度衍射測量    KXR-4100系列雙轉角晶片測角機
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KXR-4100系列雙轉角晶片測角機

用于雙轉角石英晶片的角度測量。

主要特點

 

1. 采用低功率X射線源實現雙轉角晶片角度的精確測量。

2. 可根據用戶指定的轉角范圍進行產品定制。

3. 可根據用戶指定的晶片規格提供自動分類方案。

 

統計功能

 

—動態中心值指示

—動態標準偏差值指示

—測量數據列表顯示

—模擬分選統計

 

測量模式

 

放置一個晶片,自動整理,自動掃描測量。


技術參數

 

KXR-4100

Φ:18°30′0″- 26°00′0″

θ:33°15′0″- 34°30′0″

KXR-4102

Φ:0°0′0″- 8°30′0″

θ:34°15′0″- 35°45′0″

外形尺寸(長寬高)

725*715*1450mm

重量

198kg

屏幕

8英寸觸控屏

輸入電源

220V±10%,50-60Hz,0.65A

輸入氣源

0.5MPa,20L/min潔凈氣源

衍射方式

二級衍射 

光路調整方式

可控光軌調整裝置

操作方式

人工置片,自動整理±X方向辨識測量和分類

靜態重復性測試標準偏差

約3″(10次,不同角度晶片會有差異)

可測量晶片規格

X向:12-40mm,Z向:12-40mm

數據呈現

實時提供每片數據;數據以統計表  形式顯示在觸控屏上

數據輸出

提供以太網傳輸接口、SD卡 

 

 

 

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